Rekening:  - Log in  |  Webstore  |  Aankoopmandje cart
English  |  Français  |  Nederlands

Detailgegevens over de publicatie

Publicatie CODE Titel
IEC 60747-5-3:1997 (1997-09) DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 5-3: OPTOELECTRONIC DEVICES - MEASURING METHODS
 
Prijs excl. BTW Aantal blz, tabellen, figuren
249,00 € 61.
Beschrijving
Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Klasse  C990  (IEC-PUBLICATIES IEC-PUBLICATIES)
Beschikbare bestanden
EN/FR versie

Status
Status IEC-PUBLICATIE
Toestand Vervallen
Gedeeltelijk vervangen door  IEC 60747-5-4:2006
Gedeeltelijk vervangen door  IEC 60747-5-6:2016
Gedeeltelijk vervangen door  IEC 60747-5-5:2007
Gedeeltelijk vervangen door  IEC 60747-5-7:2016
Vervangen door  IEC 60747-5-4:2006
Vervangen door  IEC 60747-5-5:2007
Vervangen door  IEC 60747-5-7:2016
Vervangen door  IEC 60747-5-6:2016
Gedeeltelijk vervangt  IEC 60747-5:1992
Gedeeltelijk vervangt  IEC 60747-5:1992/AMD1:1994
Gedeeltelijk vervangt  IEC 60747-5:1992/AMD2:1995
Oorsprong
Commissie TC 47/SC 47E
DISCRETE HALFGELEIDERELEMENTEN
Verantwoordelijke Ir DELENS Marc
Goedkeuring
BEC-goedkeuring 1997-09-05
ICS-Code (Internationale Normclassificatie) 31.260
IEC-Publicatiedatum 1997-09-05
IEC geldigheids datum 2013-12-31
laatste wijzigingsdatum IEC 2017-08-23