Detailgegevens over de publicatie

Publicatie CODE	Titel
IEC 60747-5-3:1997 (1997-09)	DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 5-3: OPTOELECTRONIC DEVICES - MEASURING METHODS

Prijs excl. BTW	Aantal blz, tabellen, figuren
249,00 €	61.

Beschrijving Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Klasse	C990 (IEC-PUBLICATIES IEC-PUBLICATIES)

Beschikbare bestanden

EN/FR versie

Status

IEC-PUBLICATIE

Toestand

Vervallen
Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-4:2006
Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-6:2016
Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-5:2007
Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-7:2016
Vervangen door IEC 60747-5-4:2006
Vervangen door IEC 60747-5-5:2007
Vervangen door IEC 60747-5-7:2016
Vervangen door IEC 60747-5-6:2016
Gedeeltelijk vervangt IEC 60747-5:1992
Gedeeltelijk vervangt IEC 60747-5:1992/AMD1:1994
Gedeeltelijk vervangt IEC 60747-5:1992/AMD2:1995

Oorsprong

Commissie	TC 47/SC 47E DISCRETE HALFGELEIDERELEMENTEN
Verantwoordelijke	Ir DELENS Marc

Goedkeuring

BEC-goedkeuring	1997-09-05
ICS-Code (Internationale Normclassificatie)	31.260

IEC-Publicatiedatum	1997-09-05
IEC geldigheids datum	2013-12-31
laatste wijzigingsdatum IEC	2017-08-23