Detailgegevens over de publicatie

Publicatie CODE	Titel
IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV (2009-11)	DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 5-3: OPTOELECTRONIC DEVICES - MEASURING METHODS

Prijs excl. BTW	Aantal blz, tabellen, figuren
408,00 €	86 P.

Beschrijving
IEC 60747-5-3:1997+A1:2002 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems. This consolidated version consists of the first edition (1997) and its amendment 1 (2002). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

This publication is to be read in conjunction with IEC 60747-1:2006, IEC 62007-1:2008 and IEC 62007-2:2009.

Klasse

C990 (IEC-PUBLICATIES IEC-PUBLICATIES)

Beschikbare bestanden

EN/FR versie

Status

Status	IEC-PUBLICATIE
Toestand	Vervallen Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-4:2006 Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-5:2007 Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-6:2016 Gedeeltelijk vervangen door IEC 60747-5-7:2016 Vervangen door IEC 60747-5-4:2006 Vervangen door IEC 60747-5-5:2007 Vervangen door IEC 60747-5-7:2016 Vervangen door IEC 60747-5-6:2016

Oorsprong

Commissie	TC 47/SC 47E DISCRETE HALFGELEIDERELEMENTEN
Verantwoordelijke	Ir DELENS Marc

Goedkeuring

BEC-goedkeuring	2009-11-25
Registratie	115202
ICS-Code (Internationale Normclassificatie)	31.080.99
NBN Status	Nieuw

IEC-Publicatiedatum	2009-11-25
IEC geldigheids datum	2013-12-31
laatste wijzigingsdatum IEC	2017-08-23